英國ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷產(chǎn)品簡介：

    系統(tǒng)配有專用Premier 操作軟件,系統(tǒng)中的所用測試項目可以同時操作使用,并按照需求制定測試工作流程,記錄下測試者每一步的測試數(shù)據(jù),形成寶貴的標準測試程序

    標準測試程序功能 (TestFlow) 可以將電路板的故障定位工作,轉(zhuǎn)換成一個循序漸進的標準程序,并降低測量的不準確性并且記錄所有的測量參數(shù). 技術(shù)工程人員可以自行編寫一個標準的測試程序,或經(jīng)由TestFlow為特定的電路板設(shè)定標準的量測步驟及記錄測量的結(jié)果. 工程人員也可以加入電路圖或?qū)嶋H的電路板圖片,甚至是加入一些指示來幫助檢測工作的進行. 半熟練的工程人員只需要按步就班的依指示及圖示來操作設(shè)備,便可以完成所有的檢測工作.

英國ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷產(chǎn)品綜述：

數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊(ATM)

提供了1個數(shù)字集成電路功能測試模塊,其具有64個量測通道,可提供多種的量測功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測,并連同在無電源供給的情形下使用的VI曲線的測試功能.

該模塊是升級產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊,系統(tǒng)提供信息更全面,更準確.測試條件更豐富,仿真測試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測輸出的電平也可以自己定義.6500模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實現(xiàn)電路板仿真測試更加方便快捷.

模擬集成電路測試功能模塊(AICT)

在模擬集成電路測試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進行功能測試.所有常見的模擬集成電路皆可以測試,系統(tǒng)會依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來作功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測試功能,電路板或集成電路可在無電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果.2500模塊包含標準模擬器件參數(shù)測試庫。

數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(VPS)

此模塊可提供集成電路或電路板在進行測試時所必要的電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時具有過電壓及過載保護功能.

Digital IC Test 數(shù)字集成電路測試功能

具64個量測通道 (64通道X1組模塊).八組輸出隔離信號.可進行集成電路的功能測試、電壓測量、接腳連接測試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測.內(nèi)建邏輯時序信號測量功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等.并可針對數(shù)字邏輯位準進行調(diào)整,另外可自動定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對功能.

Analogue IC Test 模擬集成電路測試功能

具有24組測試通道及外加一組的分離集成電路測試信道.內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫可測量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對模擬集成電路進行功能測、連接狀態(tài)測試及電壓測量.并具有自動定位集成電路接腳及電路狀比對功能.

Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測試功能

具64量測通道(64通道X1個模塊).可調(diào)整測量信號電壓范圍.針對數(shù)字集成電路可達到有效的測量結(jié)果.

Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測試功能

具有24量測通道及外加二組獨立測量通道.其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇測量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號輸出.內(nèi)建測量線路補償功能.具有外接盒可供選配.

Matrix V-I 矩陣式V-I測試功能

具有24組矩陣式的測量通道.單一波形多重顯示的方式，并可直接進行測量波形的比對功能,并以條狀圖的方式來顯示各通道信號的差異百分比.

Graphical Test Generator 數(shù)字時序編輯功能

具有64個信號通道可供編輯數(shù)字時序信號,每個通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數(shù)字向量信號、并且儲存之后再進行比對.

Short Locator 短路電阻測量功能

具有三段低電阻測量范圍,可以圖示及聲音來判斷目前短路的位置.

Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能

邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V并具有過電壓跳脫功能.另外有可調(diào)式的正負電源輸出,其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達1A.

模塊介紹

ATM數(shù)字集成電路測試模塊

英國ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷主要功能:

64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試

64通道V-I曲線模擬通道測試(可測模擬器件)

強大的元器件和整板仿真測試功能

閾值電平零界點掃描測試

短路追蹤測試(低電阻測試)

實時顯示輸出邏輯電平值

存儲器功能測試

數(shù)字時序編輯功能

未知器件型號查詢

程控電源供電

測試準確-源自先進的測試技術(shù)

同一器件同一時間完成多種測試:功能測試,V-I曲線測試,溫度拐點系數(shù)測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.

圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫.

整板測試非常簡單,通過圖形化的測試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵信號及測試輸出的標準響應(yīng)信號,快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.

邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.

邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標準的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.

短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點.

輸出邏輯時序圖形顯示,具體時序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.

V-I曲線測試功能:可針對元器件直接進行測試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對稱電壓掃描信號,正負電壓可以不一致,例如:-2.5v~+10v 最大限度地保證測試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動調(diào)整設(shè)定.掃描信號可達幾十種.