使用英國ABI的電路板反求系統(tǒng)RE1024對電路板進(jìn)行原理圖反求… [了解更多]
作為舊金山交通局電子維修中心持續(xù)現(xiàn)代化的一部分，該部門近期與英國ABI公司簽訂了多種維修設(shè)備的采購合同，主要用于列車電子部分的維修、維護(hù)以及電路板電路圖的反求工作。 舊金山交通局下屬舊金山城市鐵路局負(fù)責(zé)管理和運(yùn)營舊金山市和縣公共軌道交通部分，它主要包括7條地上的輕軌線路及城市地下鐵路（稱為市政地鐵），3條纜車線路和2條傳統(tǒng)的有軌電車線路。在購買了260臺(tái)新西門子S200 SF輕軌列車后，多年來開發(fā)的支持現(xiàn)有Breda LVR2 / 3系列的測試解決方案和模擬器將不再適用，舊金山交通局面臨著重建電子維修中心的挑戰(zhàn)，以便繼續(xù)維修和維護(hù)新型列車中安裝的現(xiàn)代電子軌道系統(tǒng)。 此外，由于缺乏新列車的基本維… [了解更多]
在量測 Relay 時(shí)，也就是一般俗稱的繼電器時(shí)，通常要將 RELAY 的規(guī)格了解清楚。在 RELAY 內(nèi)部區(qū)分為二個(gè)部分: 一為驅(qū)動(dòng)部分，就是線圈的部分，另一部分為接點(diǎn)部分，大部分為機(jī)械結(jié)構(gòu)組成的。如何量測 RELAY 的驅(qū)動(dòng)線圈? 在Diagnostic Test 5000C內(nèi)部可輸出驅(qū)動(dòng)電流最大為 20mA，但目前量測的這一顆 RELAY 的驅(qū)動(dòng)電流為 40mA，所以很明顯的驅(qū)動(dòng)電流不夠，所以，必須外加驅(qū)動(dòng)電源才能夠量測這顆 RELAY。但在使用外加電源之前，必須先測試驅(qū)動(dòng)線圈是否有問題?！?[了解更多]
某廠計(jì)量處失效元件-CD54HC14F3A測試報(bào)告evice:008;Package:14 pin DIL narrow;Scan Profile:Low V Digital;Overall Result:FAIL;Operator:Administrator;Report Date:18 October 2011;… [了解更多]
測試時(shí)間：2011-06-30 測試結(jié)果：失敗測試元件型號：16C554測試設(shè)備：英國ABI-AT25616c544故障器件測試結(jié)果圖st16c544管腳圖AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin PLCCScan Profile:CopyofNormalDigitalOverall Result:FAILOper…… [了解更多]
測試時(shí)間：2011-06-30 測試結(jié)果：通過測試元件型號：16C554測試設(shè)備：英國ABI-AT25616c544測試報(bào)告結(jié)果圖片st16c544管腳圖AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin PLCCScan Profile:CopyofNormalDigitalOverall Result:SUCCESSOp…… [了解更多]
測試時(shí)間：2012-03-22測試結(jié)果：失敗測試元件型號：CY7C1021CV33Test SummaryDevice:CY7C1021CV33Package:44 pin SOIC wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUCCESSOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]
Test SummaryDevice:LM124JPackage:14 pin DIL narrowScan Profile:LowVAnalogueOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]
Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]
測試時(shí)間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F1-OK2測試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012…… [了解更多]
測試時(shí)間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F3-OK2測試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]
測試時(shí)間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F2-OK2測試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUSPECTOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]
英國ABI:電路板故障檢測儀,通用電路板故障診斷系統(tǒng)，電路板維修測試儀;英國ABI-BM8600電路板故障檢測儀;英國ABI-BM8500電路板故障檢測儀；英國ABI-BM8400電路板故障檢測儀；英國ABI-BM8300電路板故障檢測儀；英國ABI-3400三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀;英國ABI-DT5000C多功能電路板故障檢測儀;歡迎來電咨詢,咨詢電話:010-82573333.
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