英國ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站整體概述：：

• 測試方法快速化—器件級快速定位電路板故障

• 測試手段全面化—多種手段全面檢測電路板故障:功能測試、仿真測試、端口測試

• 測試過程流程化—測試過程：工藝化、標準化、流程化。排除人為因素干擾。 

• 測試結果數(shù)據(jù)化—測試結果信息化、數(shù)據(jù)化。

1. 硬件系統(tǒng)測試功能模塊化設計，可根據(jù)需求擴充測試功能和測試通道。測試功能：多電源數(shù)字電路測試功能、模擬電路測試功能、三維立體動態(tài)阻抗測試功能、專用多功能儀表測試功能、專用流程控制可調式電源。

2. 軟件系統(tǒng)測試過程流程化設計，可以通過非編程方式實現(xiàn)測試過程流程化：保存流程測試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標準的測試流程,提高排查故障和測試效率。

3. 系統(tǒng)包含檢測原理：功能測試、仿真測試、動態(tài)阻抗測試。系統(tǒng)可以完成如下功能：電路板整板仿真測試與功能測試、電路板整板V-I-F動態(tài)阻抗端口測試分析、電路板故障快速定位、元器件功能庫測試、圖形化元件測試庫和整板測試庫編輯與測試、整板一致性分析測試與檢測、整板元器件老化趨勢分析、電路板可靠性保障分析與測試。

4. 系統(tǒng)可以實現(xiàn)測試結果數(shù)據(jù)化，自定義測試報告。

軟件流程化設計

生成自定義測試報告

巴西圣保羅地鐵所使用的專屬界面——界面自定義設計與布局

英國ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站主要功能特點：

1．硬件系統(tǒng)測試功能化設計，可根據(jù)要求擴充測試功能和測試通道。

2．軟件系統(tǒng)測試過程流程化設計，可以通過非編程方式實現(xiàn)測試過程流程化：保存流程測試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標準的測試流程，提高排故和測試效率。

3. 軟件界面自定義化設計與布局：用戶可設計自己特有的儀器界面、軟件布局。

4. 測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報告。測試報告包含用戶關注的測試數(shù)據(jù)與測試結果。

5. 多電源數(shù)字電路測試功能具有64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試（可擴充到2048通道），每個通道可以根據(jù)需要分別獨立定義為：輸入/電壓測量、輸出/信號驅動或V/I曲線測量；可進行自定義測試，器件與整板的仿真測試。

6. 閾值電平臨界點掃描測試功能，確定標準板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。

7. 邏輯時序測試功能：輸入、輸出圖形顯示，各個通道具體邏輯時序電平值數(shù)字化顯示等。

8. 具備邏輯電平閾值自定義功能。可以設定非標準邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定元器件；

9. 系統(tǒng)可對各種器件進行端口測試： V-I、V-T、V-I-F、I-T測試.V-I測試頻率低達1Hz，V-I-F測試頻率高達10kHz；

10. 128路變頻三維立體V-I-F測量通道，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關的故障，適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測試。

11. 系統(tǒng)各個功能可在同一個專業(yè)平臺操控下同時運行，完成流程化、步驟化、標準化測試并生成自定義測試報告。

12. 集成8種測試儀器于一體：數(shù)字示波器、任意波形發(fā)生器、數(shù)字電壓表、數(shù)字電流表、數(shù)字電阻表、頻率計、通用I/O、輔助電源。8種常規(guī)測試儀器可以并發(fā)操作，測試數(shù)據(jù)可形成測試報告，對電路板進行仿真測試、調試測試、一致性測試等整板測試。

13. 同步脈沖輸出模式：單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；同步脈沖時間寬度連續(xù)可調；

14. 可調式電源具有3路可調電源，電源輸出由系統(tǒng)軟件來控制，測試時自動開啟和關閉電源。

15. 多達上萬種的數(shù)字器件測試庫，測試器件庫涵蓋常用的器件，可以通過圖形化器件編輯器定義輸入激勵信號及測試輸出的標準響應信號，快速批量建立元器件和整板測試庫。

16. 系統(tǒng)含有模擬器件測試庫，可對放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉換器件等模擬集成電路進行功能測試。 

17. 智能腳踏開關使雙手專注于電路板測試，節(jié)省測試時間，增加軟件和儀器之間的交互，提高測試效率，方便用戶保存測試結果和設置。

英國ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站測試夾具（選項）：

1）DIL測試夾具（6支裝） 

2）SOIC測試夾具（6支裝） 

3）伸縮探針 

4）微型測試鉤 

5）ABI訓練板 

6）腳踏開關 

7）分立器件測試探針（4支裝） 

8）模擬V-I離線測試盒 

9）PLCC測試夾具

10）QFP測試夾具

11）SOIC 探針夾具

12）BGA測試夾具