Joint Test Action Group(JTAG)；IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)測試端口及邊界掃描的架構(gòu)；一般電路板常見的通訊界面；可支持一般無法使用接觸測試的組件包裝(e.g. BGA, QFN)；可同時測試多顆組件；安全且快速的
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