北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測(cè)試儀,電路板維修工作站,提供某工廠芯片測(cè)試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測(cè)試報(bào)告.
——測(cè)試時(shí)間：2012-03-29 測(cè)試結(jié)果：失敗
測(cè)試元件型號(hào)：SPHE8202L-F5-OK2
Test Summary
| Device: | SPHE8202 |
|---|---|
| Package: | QFP128 |
| Scan Profile: | Low V Digital |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 29 March 2012 |
2019-03
測(cè)試時(shí)間：2012-03-29 測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：SPHE8202L-F5-OK2測(cè)試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
測(cè)試時(shí)間：2012-03-29 測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：SPHE8202L-F3-OK2測(cè)試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
測(cè)試時(shí)間：2012-03-29 測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：SPHE8202L-F2-OK2測(cè)試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
測(cè)試時(shí)間：2012-03-29 測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：SPHE8202L-F1-OK2測(cè)試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOveral…… [了解更多]
2019-03
Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March…… [了解更多]
2019-03
Test SummaryDevice:LM124JPackage:14 pin DIL narrowScan Profile:LowVAnalogueOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 201…… [了解更多]
2019-03
測(cè)試時(shí)間：2012-03-22測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：CY7C1021CV33Test SummaryDevice:CY7C1021CV33Package:44 pin SOIC wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUCCE…… [了解更多]
2019-03
測(cè)試時(shí)間：2011-06-30 測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：16C554測(cè)試設(shè)備：英國ABI-AT25616c544故障器件測(cè)試結(jié)果圖st16c544管腳圖AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin…… [了解更多]
提供英國ABI電路板檢測(cè)設(shè)備:電路板故障診斷系統(tǒng),電路板故障檢測(cè)儀,電路板在線維修測(cè)試儀,集成電路在線測(cè)試儀,故障電路板檢測(cè)儀,非加電測(cè)試方案,電路板功能測(cè)試方案,電路板仿真測(cè)試方案,電路板測(cè)試系統(tǒng)定制開發(fā),提供:電路板維修測(cè)試儀,電路在線維修測(cè)試儀,故障電路板檢測(cè)儀,電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓(xùn),測(cè)試程序定制開發(fā)服務(wù)-英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務(wù)中心
——英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務(wù)中心：非加電測(cè)試方案,電路板功能測(cè)試方案,電路板仿真測(cè)試方案,電路板測(cè)試系統(tǒng)定制開發(fā),電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓(xùn),測(cè)試程序定制開發(fā)服務(wù)。
電 話：010-82573333
郵 箱：h4040@163.com
地 址：北京市海淀區(qū)蘇州街18號(hào)長(zhǎng)遠(yuǎn)天地大廈A2座711室
郵 編：100080
Copyright ?英國ABI中國技術(shù)服務(wù)中心-提供電路板測(cè)試方案-電路板故障測(cè)試方案,Inc.All rights reserved. 京ICP備05068049號(hào) 
京公海網(wǎng)安備：11010802020646號(hào)
