在量測 Relay 時(shí)，也就是一般俗稱的繼電器時(shí)，通常要將 RELAY 的規(guī)格了解清楚。在 RELA… [了解更多]
作為舊金山交通局電子維修中心持續(xù)現(xiàn)代化的一部分，該部門近期與英國ABI公司簽訂了多種維修設(shè)備的采購合… [了解更多]
使用英國ABI的電路板反求系統(tǒng)RE1024對(duì)電路板進(jìn)行原理圖反求… [了解更多]
HCPL-6751高速光耦偶發(fā)性故障的對(duì)比測試報(bào)告,使用電路板故障測試儀對(duì)某廠器件進(jìn)行國產(chǎn)與進(jìn)口器件… [了解更多]
某廠計(jì)量處失效元件-CD54HC14F3A測試報(bào)告evice:008;Package:14 pin DIL narrow;Scan Profile:Low V Digital;Overall Result:FAIL;Operator:Administrator;Report Date:18 October 2011;… [了解更多]
測試時(shí)間：2011-06-30 測試結(jié)果：失敗測試元件型號(hào)：16C554測試設(shè)備：英國ABI-AT25616c544故障器件測試結(jié)果圖st16c544管腳圖AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin PLCCScan Profile:CopyofNormalDigitalOverall Result:FAILOper…… [了解更多]
測試時(shí)間：2011-06-30 測試結(jié)果：通過測試元件型號(hào)：16C554測試設(shè)備：英國ABI-AT25616c544測試報(bào)告結(jié)果圖片st16c544管腳圖AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin PLCCScan Profile:CopyofNormalDigitalOverall Result:SUCCESSOp…… [了解更多]
測試時(shí)間：2012-03-22測試結(jié)果：失敗測試元件型號(hào)：CY7C1021CV33Test SummaryDevice:CY7C1021CV33Package:44 pin SOIC wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUCCESSOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]
Test SummaryDevice:LM124JPackage:14 pin DIL narrowScan Profile:LowVAnalogueOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]
Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]
測試時(shí)間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號(hào)：SPHE8202L-F1-OK2測試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012…… [了解更多]
測試時(shí)間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號(hào)：SPHE8202L-F3-OK2測試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]
測試時(shí)間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號(hào)：SPHE8202L-F2-OK2測試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUSPECTOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]
測試時(shí)間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號(hào)：SPHE8202L-F5-OK2測試設(shè)備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]
提供英國ABI電路板檢測設(shè)備:電路板故障診斷系統(tǒng),電路板故障檢測儀,電路板在線維修測試儀,集成電路在線測試儀,故障電路板檢測儀,非加電測試方案,電路板功能測試方案,電路板仿真測試方案,電路板測試系統(tǒng)定制開發(fā),提供:電路板維修測試儀,電路在線維修測試儀,故障電路板檢測儀,電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓(xùn),測試程序定制開發(fā)服務(wù)-英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務(wù)中心
——英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務(wù)中心：非加電測試方案,電路板功能測試方案,電路板仿真測試方案,電路板測試系統(tǒng)定制開發(fā),電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓(xùn),測試程序定制開發(fā)服務(wù)。
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