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    • 某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F2-OK2故障器件測試報(bào)告

      北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測試儀,電路板故障檢測儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測試儀,電路板維修工作站,提供某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F2-OK2故障器件測試報(bào)告.

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      測試時(shí)間:2012-03-29 測試結(jié)果:失敗

      測試元件型號:SPHE8202L-F2-OK2

      測試設(shè)備:英國ABI-AT192


      Test Summary



      Device:SPHE8202
      Package:QFP128
      Scan Profile:Low V Digital
      Overall Result:SUSPECT
      Operator:Administrator
      Report Date:29 March 2012



      case11f1.jpg


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      電路板故障檢測儀電路板故障檢測儀

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