北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測試儀,電路板故障檢測儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測試儀,電路板維修工作站,提供某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件測試報告.
——測試時間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗
測試元件型號：SPHE8202L-F1-OK2
Test Summary
| Device: | SPHE8202-F1-OK2 |
|---|---|
| Package: | QFP128 |
| Scan Profile: | Low V Digital |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 29 March 2012 |
2019-03
測試時間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F5-OK2測試設備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
測試時間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F3-OK2測試設備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
測試時間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F2-OK2測試設備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
測試時間：2012-03-29 測試結(jié)果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F1-OK2測試設備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOveral…… [了解更多]
2019-03
Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March…… [了解更多]
2019-03
Test SummaryDevice:LM124JPackage:14 pin DIL narrowScan Profile:LowVAnalogueOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 201…… [了解更多]
2019-03
測試時間：2012-03-22測試結(jié)果：失敗測試元件型號：CY7C1021CV33Test SummaryDevice:CY7C1021CV33Package:44 pin SOIC wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUCCE…… [了解更多]
2019-03
測試時間：2011-06-30 測試結(jié)果：失敗測試元件型號：16C554測試設備：英國ABI-AT25616c544故障器件測試結(jié)果圖st16c544管腳圖AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin…… [了解更多]
提供英國ABI電路板檢測設備:電路板故障診斷系統(tǒng),電路板故障檢測儀,電路板在線維修測試儀,集成電路在線測試儀,故障電路板檢測儀,非加電測試方案,電路板功能測試方案,電路板仿真測試方案,電路板測試系統(tǒng)定制開發(fā),提供:電路板維修測試儀,電路在線維修測試儀,故障電路板檢測儀,電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓,測試程序定制開發(fā)服務-英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務中心
——英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務中心：非加電測試方案,電路板功能測試方案,電路板仿真測試方案,電路板測試系統(tǒng)定制開發(fā),電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓,測試程序定制開發(fā)服務。
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