使用英國ABI的電路板反求系統(tǒng)RE1024對電路板進行原理圖反求… [了解更多]
作為舊金山交通局電子維修中心持續(xù)現代化的一部分，該部門近期與英國ABI公司簽訂了多種維修設備的采購合同，主要用于列車電子部分的維修、維護以及電路板電路圖的反求工作。 舊金山交通局下屬舊金山城市鐵路局負責管理和運營舊金山市和縣公共軌道交通部分，它主要包括7條地上的輕軌線路及城市地下鐵路（稱為市政地鐵），3條纜車線路和2條傳統(tǒng)的有軌電車線路。在購買了260臺新西門子S200 SF輕軌列車后，多年來開發(fā)的支持現有Breda LVR2 / 3系列的測試解決方案和模擬器將不再適用，舊金山交通局面臨著重建電子維修中心的挑戰(zhàn)，以便繼續(xù)維修和維護新型列車中安裝的現代電子軌道系統(tǒng)。 此外，由于缺乏新列車的基本維… [了解更多]
在量測 Relay 時，也就是一般俗稱的繼電器時，通常要將 RELAY 的規(guī)格了解清楚。在 RELAY 內部區(qū)分為二個部分: 一為驅動部分，就是線圈的部分，另一部分為接點部分，大部分為機械結構組成的。如何量測 RELAY 的驅動線圈? 在Diagnostic Test 5000C內部可輸出驅動電流最大為 20mA，但目前量測的這一顆 RELAY 的驅動電流為 40mA，所以很明顯的驅動電流不夠，所以，必須外加驅動電源才能夠量測這顆 RELAY。但在使用外加電源之前，必須先測試驅動線圈是否有問題?！?[了解更多]
某廠計量處失效元件-CD54HC14F3A測試報告evice:008;Package:14 pin DIL narrow;Scan Profile:Low V Digital;Overall Result:FAIL;Operator:Administrator;Report Date:18 October 2011;… [了解更多]
測試時間：2011-06-30 測試結果：失敗測試元件型號：16C554測試設備：英國ABI-AT25616c544故障器件測試結果圖st16c544管腳圖AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin PLCCScan Profile:CopyofNormalDigitalOverall Result:FAILOper…… [了解更多]
測試時間：2011-06-30 測試結果：通過測試元件型號：16C554測試設備：英國ABI-AT25616c544測試報告結果圖片st16c544管腳圖AT256 - Chip ReportTest SummaryDevice:16C554-123Package:68 pin PLCCScan Profile:CopyofNormalDigitalOverall Result:SUCCESSOp…… [了解更多]
測試時間：2012-03-22測試結果：失敗測試元件型號：CY7C1021CV33Test SummaryDevice:CY7C1021CV33Package:44 pin SOIC wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUCCESSOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]
Test SummaryDevice:LM124JPackage:14 pin DIL narrowScan Profile:LowVAnalogueOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]
Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March 2012… [了解更多]
測試時間：2012-03-29 測試結果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F1-OK2測試設備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012…… [了解更多]
測試時間：2012-03-29 測試結果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F3-OK2測試設備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]
測試時間：2012-03-29 測試結果：失敗測試元件型號：SPHE8202L-F2-OK2測試設備：英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Result:SUSPECTOperator:AdministratorReport Date:29 March 2012… [了解更多]
英國ABI:電路板故障檢測儀,通用電路板故障診斷系統(tǒng)，電路板維修測試儀;英國ABI-BM8600電路板故障檢測儀;英國ABI-BM8500電路板故障檢測儀；英國ABI-BM8400電路板故障檢測儀；英國ABI-BM8300電路板故障檢測儀；英國ABI-3400三維立體V-I-F動態(tài)阻抗分析儀;英國ABI-DT5000C多功能電路板故障檢測儀;歡迎來電咨詢,咨詢電話:010-82573333.
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