北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測(cè)試儀,電路板維修工作站,提供某廠計(jì)量處失效元件-CD54HC14F3A測(cè)試報(bào)告.
——AT256 - Chip Report
Test Summary
| Device: | 008 |
|---|---|
| Package: | 14 pin DIL narrow |
| Scan Profile: | Low V Digital |
| Overall Result: | FAIL |
| Operator: | Administrator |
| Report Date: | 18 October 2011 |
2019-03
某廠計(jì)量處失效元件-CD54HC14F3A測(cè)試報(bào)告evice:008;Package:14 pin DIL narrow;Scan Profile:Low V Digital;Overall Result:FAIL;Operator:Administrator;Report Da…… [了解更多]
英國(guó)ABI:電路板故障檢測(cè)儀,通用電路板故障診斷系統(tǒng)，電路板維修測(cè)試儀;英國(guó)ABI-BM8600電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-BM8500電路板故障檢測(cè)儀；英國(guó)ABI-BM8400電路板故障檢測(cè)儀；英國(guó)ABI-BM8300電路板故障檢測(cè)儀；英國(guó)ABI-3400三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀;英國(guó)ABI-DT5000C多功能電路板故障檢測(cè)儀;歡迎來(lái)電咨詢,咨詢電話:010-82573333.
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