北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測(cè)試儀,電路板維修工作站,提供英國(guó)ABI-AT256測(cè)試案例-ST16C554故障器件測(cè)試報(bào)告.
——2019-03
測(cè)試時(shí)間：2012-03-29 測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：SPHE8202L-F5-OK2測(cè)試設(shè)備：英國(guó)ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
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測(cè)試時(shí)間：2012-03-29 測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：SPHE8202L-F3-OK2測(cè)試設(shè)備：英國(guó)ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
測(cè)試時(shí)間：2012-03-29 測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：SPHE8202L-F2-OK2測(cè)試設(shè)備：英國(guó)ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]
2019-03
測(cè)試時(shí)間：2012-03-29 測(cè)試結(jié)果：失敗測(cè)試元件型號(hào)：SPHE8202L-F1-OK2測(cè)試設(shè)備：英國(guó)ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOveral…… [了解更多]
2019-03
Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March…… [了解更多]
英國(guó)ABI:電路板故障檢測(cè)儀,通用電路板故障診斷系統(tǒng)，電路板維修測(cè)試儀;英國(guó)ABI-BM8600電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-BM8500電路板故障檢測(cè)儀；英國(guó)ABI-BM8400電路板故障檢測(cè)儀；英國(guó)ABI-BM8300電路板故障檢測(cè)儀；英國(guó)ABI-3400三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀;英國(guó)ABI-DT5000C多功能電路板故障檢測(cè)儀;歡迎來(lái)電咨詢,咨詢電話:010-82573333.
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