JTAGMaster邊界掃描測(cè)試是可編程邏輯器件（pld）配置和診斷的集成解決方案。

    一種邊界掃描測(cè)試儀，可觀察單個(gè)管腳，從而定其功能。此信息可以保存在可自定義的測(cè)試過程中，該過程還可以包括圖片和數(shù)據(jù)表。EXTEST模式也可用于手動(dòng)更改管腳的狀態(tài)并跟蹤對(duì)鏈中其他設(shè)備的影響。掃描檢查是一個(gè)多許可證軟件，可以在多個(gè)站點(diǎn)上運(yùn)行邊界掃描檢查。

    一種編程接口，用于處理工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JAM STAPL文件（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試和編程語言）和SVF文件（串行矢量格式），以便向設(shè)備發(fā)送編程指令和測(cè)試功能。ABI使用JTAG標(biāo)準(zhǔn)（聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組，與IEEE1149.1兼容），兼容IC之間的兼容性。

    JTAGMaster還能夠使用外部適配器對(duì)EEPROM器件進(jìn)行編程。 支持標(biāo)準(zhǔn)brinary文件，也可以在設(shè)備緩沖區(qū)窗口中對(duì)其進(jìn)行修改。 庫(kù)中存在多種EEPROM器件，用戶可以輕松對(duì)其進(jìn)行修改。

    JTAGMaster支持以下協(xié)議：串行外設(shè)接口（SPI）；集成電路間（I2C）；微線（μwire）。