英國(guó)ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站整體概述：

   測(cè)試方法快速化—器件級(jí)快速定位電路板故障

   測(cè)試手段化—多種手段檢測(cè)電路板故障:功能測(cè)試、仿真測(cè)試、端口測(cè)試

   測(cè)試過(guò)程流程化—測(cè)試過(guò)程：工藝化、標(biāo)準(zhǔn)化、流程化。排除人為因素干擾。 

   測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)化—測(cè)試結(jié)果信息化、數(shù)據(jù)化。

   硬件系統(tǒng)測(cè)試功能模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)需求擴(kuò)充測(cè)試功能和測(cè)試通道。測(cè)試功能：多電源數(shù)字電路測(cè)試功能、模擬電路測(cè)試功能、三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試功能、多功能儀表測(cè)試功能、流程控制可調(diào)式電源。

   軟件系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程流程化設(shè)計(jì)，可以通過(guò)非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程流程化：保存流程測(cè)試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程,提高排查故障和測(cè)試效率。

   系統(tǒng)包含檢測(cè)原理：功能測(cè)試、仿真測(cè)試、動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試。系統(tǒng)可以完成如下功能：電路板整板仿真測(cè)試與功能測(cè)試、電路板整板V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試分析、電路板故障快速定位、元器件功能庫(kù)測(cè)試、圖形化元件測(cè)試庫(kù)和整板測(cè)試庫(kù)編輯與測(cè)試、整板一致性分析測(cè)試與檢測(cè)、整板元器件老化趨勢(shì)分析、電路板可靠性保障分析與測(cè)試。

   系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)化，自定義測(cè)試報(bào)告。

軟件流程化設(shè)計(jì) 

生成自定義測(cè)試報(bào)告

巴西圣保羅地鐵所使用的專屬界面——界面自定義設(shè)計(jì)與布局

英國(guó)ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站主要功能特點(diǎn)：

1．硬件系統(tǒng)測(cè)試功能化設(shè)計(jì)，可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試功能和測(cè)試通道。

2．軟件系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程流程化設(shè)計(jì)，可以通過(guò)非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程流程化：保存流程測(cè)試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程，提高排故和測(cè)試效率。

3. 軟件界面自定義化設(shè)計(jì)與布局：用戶可設(shè)計(jì)自己儀器界面、軟件布局。

4. 測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。測(cè)試報(bào)告包含用戶關(guān)注的測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試結(jié)果。

5. 多電源數(shù)字電路測(cè)試功能具有64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試（可擴(kuò)充到2048通道），每個(gè)通道可以根據(jù)需要分別獨(dú)立定義為：輸入/電壓測(cè)量、輸出/信號(hào)驅(qū)動(dòng)或V/I曲線測(cè)量；可進(jìn)行自定義測(cè)試，器件與整板的仿真測(cè)試。

6. 閾值電平臨界點(diǎn)掃描測(cè)試功能，確定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。

7. 邏輯時(shí)序測(cè)試功能：輸入、輸出圖形顯示，各個(gè)通道具體邏輯時(shí)序電平值數(shù)字化顯示等。

8. 具備邏輯電平閾值自定義功能?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定元器件；

9. 系統(tǒng)可對(duì)多種器件進(jìn)行端口測(cè)試： V-I、V-T、V-I-F、I-T測(cè)試.V-I測(cè)試頻率低達(dá)1Hz，V-I-F測(cè)試頻率高達(dá)10kHz；

10. 128路變頻三維立體V-I-F測(cè)量通道，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障，適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測(cè)試。

11. 系統(tǒng)各個(gè)功能可在同一個(gè)專業(yè)平臺(tái)操控下同時(shí)運(yùn)行，完成流程化、步驟化、標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試并生成自定義測(cè)試報(bào)告。

12. 集成8種測(cè)試儀器于一體：數(shù)字示波器、任意波形發(fā)生器、數(shù)字電壓表、數(shù)字電流表、數(shù)字電阻表、頻率計(jì)、通用I/O、輔助電源。8種常規(guī)測(cè)試儀器可以并發(fā)操作，測(cè)試數(shù)據(jù)可形成測(cè)試報(bào)告，對(duì)電路板進(jìn)行仿真測(cè)試、調(diào)試測(cè)試、一致性測(cè)試等整板測(cè)試。

13. 同步脈沖輸出模式：?jiǎn)蚊}沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；同步脈沖時(shí)間寬度連續(xù)可調(diào)；

14. 可調(diào)式電源具有3路可調(diào)電源，電源輸出由系統(tǒng)軟件來(lái)控制，測(cè)試時(shí)自動(dòng)開(kāi)啟和關(guān)閉電源。

15. 多達(dá)上萬(wàn)種的數(shù)字器件測(cè)試庫(kù)，測(cè)試器件庫(kù)涵蓋常用的器件，可以通過(guò)圖形化器件編輯器定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速批量建立元器件和整板測(cè)試庫(kù)。

16. 系統(tǒng)含有模擬器件測(cè)試庫(kù)，可對(duì)放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場(chǎng)效應(yīng)晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)試。 

17. 智能腳踏開(kāi)關(guān)使雙手專注于電路板測(cè)試，節(jié)省測(cè)試時(shí)間，增加軟件和儀器之間的交互，提高測(cè)試效率，方便用戶保存測(cè)試結(jié)果和設(shè)置。

英國(guó)ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站測(cè)試夾具（選項(xiàng)）：

1）DIL測(cè)試夾具（6支裝） 

2）SOIC測(cè)試夾具（6支裝） 

3）伸縮探針 

4）微型測(cè)試鉤 

5）ABI訓(xùn)練板 

6）腳踏開(kāi)關(guān) 

7）分立器件測(cè)試探針（4支裝） 

8）模擬V-I離線測(cè)試盒 

9）PLCC測(cè)試夾具

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10）QFP測(cè)試夾具

11）SOIC 探針夾具

12）BGA測(cè)試夾具