• <samp id="c604i"><pre id="c604i"></pre></samp>
    • <strike id="c604i"><menu id="c604i"></menu></strike>
    • 某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測試儀,電路板故障檢測儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測試儀,電路板維修工作站,提供某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告.

      ——

      打印本文             

      測試時(shí)間:2012-03-29 測試結(jié)果:失敗

      測試元件型號:SPHE8202L-F5-OK2

      測試設(shè)備:英國ABI-AT192


      Test Summary



      Device:SPHE8202
      Package:QFP128
      Scan Profile:Low V Digital
      Overall Result:FAIL
      Operator:Administrator
      Report Date:29 March 2012



      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告


      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報(bào)告

      上一篇某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F3-OK2故障器件測試報(bào)告
      下一篇

      相關(guān)內(nèi)容

      ——

      23

      2019-03

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F…

      測試時(shí)間:2012-03-29 測試結(jié)果:失敗測試元件型號:SPHE8202L-F5-OK2測試設(shè)備:英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]

      23

      2019-03

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F…

      測試時(shí)間:2012-03-29 測試結(jié)果:失敗測試元件型號:SPHE8202L-F3-OK2測試設(shè)備:英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]

      23

      2019-03

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F…

      測試時(shí)間:2012-03-29 測試結(jié)果:失敗測試元件型號:SPHE8202L-F2-OK2測試設(shè)備:英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOverall Resul…… [了解更多]

      23

      2019-03

      某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F…

      測試時(shí)間:2012-03-29 測試結(jié)果:失敗測試元件型號:SPHE8202L-F1-OK2測試設(shè)備:英國ABI-AT192Test SummaryDevice:SPHE8202-F1-OK2Package:QFP128Scan Profile:LowVDigitalOveral…… [了解更多]

      23

      2019-03

      某研究中心測試案例-HM628512AL…

      Test SummaryDevice:HM628512ALP-7Package:32 pin DIL wideScan Profile:LowVDigitalOverall Result:FAILOperator:AdministratorReport Date:20 March…… [了解更多]


      └?電路板故障檢測儀(Board test)通用電路板故障診斷系統(tǒng)

      英國ABI:電路板故障檢測儀,通用電路板故障診斷系統(tǒng),電路板維修測試儀;英國ABI-BM8600電路板故障檢測儀;英國ABI-BM8500電路板故障檢測儀;英國ABI-BM8400電路板故障檢測儀;英國ABI-BM8300電路板故障檢測儀;英國ABI-3400三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀;英國ABI-DT5000C多功能電路板故障檢測儀;歡迎來電咨詢,咨詢電話:010-82573333.

      ——

      英國ABI

      英國ABI中國技術(shù)服務(wù)中心-提供全面完整電路板測試方案-電路板故障測試方案

      電 話:010-82573333
      郵 箱:h4040@163.com
      地 址:北京市海淀區(qū)蘇州街18號長遠(yuǎn)天地大廈A2座711室
      郵 編:100080

      Copyright ?英國ABI中國技術(shù)服務(wù)中心-提供全面完整電路板測試方案-電路板故障測試方案,Inc.All rights reserved.  京ICP備05068049號 京公海網(wǎng)安備110108001146號

       
      QQ在線咨詢
      咨詢電話
      010-82573333
    • <samp id="c604i"><pre id="c604i"></pre></samp>
      • <strike id="c604i"><menu id="c604i"></menu></strike>