英國(guó)ABI-3200三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀特點(diǎn):

三維立體V-I-F曲線(xiàn)測(cè)試儀

變頻掃描V-I-F曲線(xiàn)測(cè)試儀

專(zhuān)業(yè)級(jí)V-I-F曲線(xiàn)測(cè)試儀

靜態(tài)診斷電路板, 不必外加電源即可進(jìn)行測(cè)試。

檢測(cè)電路板上受損器件。

可檢測(cè)出具有泄漏型故障的器件。

可檢測(cè)出不相同的器件。

將損壞風(fēng)險(xiǎn)降低。

具多通道測(cè)試（64通道）, 可減少測(cè)試時(shí)間。

英國(guó)ABI-3200三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀

可在靜態(tài)條件下分析器件及整板測(cè)試采用測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線(xiàn), 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問(wèn)題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件- 增加問(wèn)題檢測(cè)范圍, 同時(shí), 減少測(cè)試時(shí)間!

何謂V/I曲線(xiàn)測(cè)試?

對(duì)于模擬及數(shù)字電路板, V/I曲線(xiàn)測(cè)試是成熟、可靠的解決方案。

透過(guò)一個(gè)限流電阻器, 施加AC電壓到一個(gè)測(cè)試點(diǎn)時(shí), 測(cè)量因此產(chǎn)生之電流, 并將結(jié)果繪制成一個(gè)電壓/電流圖形, 即顯示該測(cè)試點(diǎn)的特性曲線(xiàn)。

分析V/I曲線(xiàn),通常是與一參考點(diǎn)作比較,而檢測(cè)如下問(wèn)題:

漏電流器件。

內(nèi)部受損器件。

錯(cuò)誤數(shù)值的器件。

不一致的器件。

短路與開(kāi)路。

變頻掃描方式---增加問(wèn)題查找范圍!

ABI-3400模塊, 通過(guò)改變V/I信號(hào)的AC電壓的頻率, 而增加問(wèn)題檢測(cè)范圍, 其產(chǎn)生的曲線(xiàn), 繪制在一個(gè)3D窗口內(nèi), 能讓使用者觀察到整個(gè)頻率范圍上的V/I曲線(xiàn)變化, 進(jìn)而找到標(biāo)準(zhǔn)V/I分析方法看不見(jiàn)的問(wèn)題。

矩陣式掃描V/I----- 增加問(wèn)題查找范圍!

ABI-3200模塊也可使用矩陣式掃描獲得V/I曲線(xiàn), 而增加問(wèn)題檢測(cè)范圍。在這個(gè)模式時(shí), ABI-3200模塊是在參考其它有效管腳(不同于標(biāo)準(zhǔn)V/I測(cè)試中只有一個(gè)參考管腳)的情形下, 獲得一個(gè)器件或電路板每個(gè)管腳的V/I曲線(xiàn)。如此,便能產(chǎn)生豐富的數(shù)據(jù)組(一個(gè)20腳器件400條曲線(xiàn)), 足以檢測(cè)出不易查找的故障。

靜態(tài)測(cè)試=安全測(cè)試!

被測(cè)電路板是在靜態(tài)測(cè)試下擷取曲線(xiàn), 這降低了器件在測(cè)試當(dāng)中受損的機(jī)率, 容許半熟練的操作人員執(zhí)行初步測(cè)試。更重要的是,即使是閑置”的電路板, 也能作測(cè)試診斷!

多通道=更快速的測(cè)試!

ABI-3400模塊配備64個(gè)測(cè)試信道(可擴(kuò)充), 可測(cè)試大規(guī)模器件、甚至整個(gè)電路板的曲線(xiàn)(例如, 透過(guò)一個(gè)轉(zhuǎn)接連接頭), 這可大幅減少測(cè)試所需時(shí)間，快速診斷多種電路板，而無(wú)須檢查每個(gè)管腳。

英國(guó)ABI-3200三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀測(cè)試功能

ABI-3200模塊提供多種形式的V/I曲線(xiàn)測(cè)試及可設(shè)定的參數(shù), 可擴(kuò)大其應(yīng)用范圍及增加測(cè)試范圍, 包括:

變頻掃描進(jìn)行V/I曲線(xiàn)測(cè)試。

設(shè)定頻率進(jìn)行掃描的V/I曲線(xiàn)測(cè)試。

矩陣式掃描進(jìn)行V/I測(cè)試。

脈沖輸出進(jìn)行的動(dòng)態(tài)V/I測(cè)試。