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    • SWA1024大規(guī)模集成電路三維立體動(dòng)態(tài)阻抗V-I-F測試系統(tǒng)大規(guī)模集成電路三維立體動(dòng)態(tài)阻抗V-I-F測試系統(tǒng)



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      1024通道

      器件測試圖例:


      SWA2048f2.jpg

      集成電路測試截圖:

      SWA2048f3.jpg


      SWA2048f4.jpg
      可以放大觀看單個(gè)管腳PIN

      測試通道:

      二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:1024路

      二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測試通道:1024路

      三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:1024路

      設(shè)備可以64通道為步進(jìn)最大擴(kuò)充到2048組測試通道

      功能用途:


      1)集成電路的來料質(zhì)量控制檢測與篩選、一致性檢測;

      2)可用于集成電路、元器件研發(fā)測試;三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測試;

      3)快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件;

      4)對不良器件進(jìn)行三維動(dòng)態(tài)阻抗失效分析;

      5)非加電條件下對集成電路、電路板進(jìn)行全面的端口動(dòng)態(tài)阻抗測試分析;

      6)快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳,高效查找故障電路板的失效I/O管腳;

      7)測試安全可靠,全面解決器件工藝、電路板工藝問題,快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問題;

      8)進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測;

      9)專業(yè)操作管理平臺(tái):可根據(jù)需求編輯測試流程程序,完成自定義化測試,軟件管理平臺(tái)兼容其他廠商設(shè)備。測試流程的制定貫穿整個(gè)測試過程,使集成電路、電路測試的過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程(維修流程、生產(chǎn)流程)。保證了測試工藝的一致性,排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化。


      技術(shù)規(guī)格:


      二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:1024路

      二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測試通道:1024路

      三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:1024路

      設(shè)備可以64通道為步進(jìn)最大擴(kuò)充到2048組測試通道

      實(shí)時(shí)探筆對比測試通道:4路

      同步脈沖信號:4路

      測試電壓范圍:2 V ~ 50 Vp-p;

      顯示圖形模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F;

      信號電流范圍: 1 μA to 150 mA

      測試阻抗范圍 : 100Ω ~ 1MΩ;

      三維立體V-I-F測量方式:掃頻;

      同步脈沖輸出模式:單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖;

      同步信號振幅:可調(diào)式由 +10 V ~- 10V;


      主要優(yōu)勢:


      1)提供軟件開發(fā)平臺(tái),兼容其他廠商測試設(shè)備;

      2)特有的V-T模式可測量器件的開關(guān)時(shí)間特性(配合同步脈沖);可設(shè)定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試??蓽y試三段期間開關(guān)時(shí)間特性。

      3)動(dòng)態(tài)阻抗分析功能,可以對三維圖形進(jìn)行參數(shù)的測量;

      4)變頻或掃頻三維立體V-I-F測量方式,三維立體顯示器件的端口特性曲線,可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或集成電路。

      5)非加電條件下靜態(tài)診斷集成電路, 不必外加電源即可進(jìn)行測試。測試更安全:矩陣式掃頻測試,脈沖輸出進(jìn)行的動(dòng)態(tài)V/T測試。

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