對各類失效電子元器件的點(diǎn)性能進(jìn)行測試，分析以及問題定位

通過對集成電路管腳件的VI特性電性能進(jìn)行測試、比對和分析，找出失效樣品的問題管腳。

快速對失效樣品和良品管腳特性進(jìn)行對比，定位問題引腳數(shù)量和位置

對問題請教進(jìn)行IV特性測試，確定失效樣品問題引腳間阻抗、容抗、漏電流等消息。

必要時(shí)對失效樣品的非問題引腳進(jìn)行置位操作，確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。